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Der Near Infrared Differential Spectrometer USPM-RU-W von Olympus erm?glicht eine spektroskopische Messung mit hoher Geschwindigkeit und hoher Pr?zision in einem gro?en Wellenl?ngenbereich von sichtbarem bis nahem Infrarotbereich. Da es leicht ist, die Reflexivit?t von feinen Bereichen und Fl?chen zu messen, die mit normalen Spektrophotometern nicht bestimmt werden k?nnen, eignet sich Z für Produkte wie optische Komponenten und kleine elektronische Komponenten.

Produktdetails

von OlympusUSPM-RU-W Nah-Infrarot-DifferenzialmessgerätSpektroskopische Messungen in einem großen Wellenlängenbereich von sichtbaren bis nahen Infrarotbereichen können mit hoher Geschwindigkeit und hoher Präzision durchgeführt werden. Da es leicht ist, die Reflexivität von feinen Bereichen und Flächen zu messen, die mit einem üblichen Spektrophotometer nicht bestimmt werden können, eignet sich zui für Produkte wie optische Komponenten und kleine elektronische Komponenten.

Wirkliche Messfunktionen
Mit einem Gerät können verschiedene Spektrometermessungen von Reflexivität, Membrandicke, Objektfarbe, Durchlässigkeit, Eintrittswinkel 45 Grad Reflexivität durchgeführt werden.

◆ Messung der Reflexivität
Messung der Reflexivität von kleinen Punkten mit Objektivfokussierung φ17 bis 70 μm.

◆ Messung der Filmdicke
Verwenden Sie die Reflexivitätsdaten, um die Membrandücke einer einschichtigen und mehrschichtigen Membran von etwa 50 nm bis etwa 10 μm zu bestimmen.

Messung der Objektfarbe
Anzeige von XY-Farbdiagrammen, L*a*b-Farbdiagrammen und entsprechenden Werten basierend auf Reflexionsdaten.

◆ Messung der Durchlässigkeit
Messung der Durchlässigkeit der flachen Probe durch ein paralleles Licht von φ2mm von der Unterseite des Tisches. (Optional)

◆ Messung der Reflexivität des Eingangswinkels von 45 Grad
Reflektiert das parallele Licht φ2mm von der Seite nach 45 Grad und bestimmt seine Reflexivität. (Optional)

Hohe Präzision und hohe Geschwindigkeit

• Hochgeschwindigkeitsmessung
Hochgeschwindigkeitsmessung durch gleichzeitige Spektrifizierung der gesamten Wellenlänge mit Flachraster- und Leitungssensoren.

Zui eignet sich für die Messung der Reflexivität von Kleinteilen und Linsen
Neue Objektive wurden entwickelt, die kontaktlose Messungen in einem Messbereich von φ17 bis 70 μm durchführen können. Die gewöhnliche Spektrophotometer kann keine Messung der Oberfläche von kleinen elektronischen Teilen oder Linsen durchführen, aber auch eine sehr reproduzierbare Messung erreichen.

◆ Bei der Messung der Reflexivität ist keine Rückseite Anti-Reflexion-Behandlung erforderlich
Durch die Kombination des Objektivs mit der Ringbeleuchtung kann eine Reflexivität von 0,2 mm* gemessen werden, ohne die Rückseite des detektierten Objekts zu reflektieren.

◆ Wahlbare Methode zur Messung der Membrandicke
USPM-RU-W Nah-Infrarot-DifferenzialmessgerätAnalyse der Schichtdicke von Einzel- oder Mehrschichtmembranen anhand der gemessenen Spektralreflexionsdaten. Die Messmethode kann je nach Anwendung* ausgewählt werden.

: Spezifikationen
	Reflexivitätsmessung			Durchlässigkeitsmessung*1	45 Grad Reflexionsmessung*1
Name	Nah-Infrarot-Differentialfotometer			Nahinfrarot-Differentialfotometer Durch Auswahl von Zubehör	Nahinfrarot-Differentialfotometer 45 Grad Reflexionsmessung Zubehör
Modell	USPM-RU-W
Messung der Wellenlänge	380 bis 1050 nm
Messmethoden	Vergleichsbestimmung von Referenzproben			Durchlässigkeitsmessung des Benchmarks*	Vergleichsbestimmung von Referenzproben
Messbereich	Folgende Spezifikationen für Objektive			ca. ø2.0mm
Messung Reproduzierbarkeit (3σ)*2	Reflexivitätsmessung	Bei Verwendung von 10x- oder 20x-Objektiven	unter ± 0,02 [%] (430-1010nm), ± 0,2 [%] (außer oben genannten)	unter ± 1,25 [%] (430-1010 nm), ±5,0 [%] (außer der linken Aufzeichnung)
		Bei Verwendung von 40x Objektiven	unter ± 0,05 [%] (430-950nm), ± 0,5 [%] (außer oben genannten)
	Dickenmessung	± 1 %		-
Wellenlänge Anzeige Zersetzungskraft	1 nm
Beleuchtungszubehör	Halogenbeleuchtung JC12V 55W (durchschnittliche Lebensdauer 700h)
Verschiebungsstich	Größe der Tragfläche: 200 (W) × 200 (D) mm Gewicht: 3 kg Arbeitsbereich: (XY) ±40mm, (Z) 125mm
Schrägbühne	－			Größe der Tragfläche: 140 (W) × 140 (D) mm Gewicht: 1 kg Arbeitsbereich: (XT) ±1°, (YT) ±1°
Gerätequalität	Körper: ca. 26 kg (außer PC)			Körper: ca. 31 kg (außer PC)*3
	Steuerung Stromversorgung: ca. 6,7 kg
Gerätegröße	Hauptteil: 360 (W) × 446 (D) × 606 (H) mm			Hauptteil: 360 (W) × 631 (D) × 606 (H) mm
	Steuerung Stromversorgung: 250 (W) × 270 (D) × 125 (H) mm
Spezifikationen der Stromversorgung	Eingang: 100-240V (110VA) 50/60Hz
Umgebung verwenden	Ebenen ohne Vibrationen Temperatur: 15-30°C Luftfeuchtigkeit: 15-60% RH

*1 Optionale Komponenten *2 Messung unter eigenen Messbedingungen *3 Das Gesamtgewicht des Durchsatzmesskits und des 45 Grad Reflexionsmesskits beträgt 33 kg.

Für Objekte
Modell	USPM-OBL10X	USPM-OBL20X	USPM-OBL40X
Vergrößerung	10x	20x	40x
NA	0.12	0.24	0.24
Messbereich*4	70 μm	34 μm	17 μm
Arbeitsabstand	14,3 mm	4,2 mm	2,2 mm
Krümmungsradius der Probe	±5 mm	±1mm bis	±1mm bis

*4 Durchmesser

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