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Halogenlichtquellen mit hoher Helligkeit in der Halbleiterchip- und Flüssigkristallplattenbearbeitung
Fremdkörper, Kratzer, ungleichmäßiges Schleifen, Nebel, Schiebe usw. auf der arbeitsintensiven Endbearbeitungsfläche
Makroskopische Beobachtungsbeleuchtung zur Erkennung verschiedener Mängel.
Übersicht
1 . Eine Beleuchtung der Probenoberfläche von über 400.000 LX ist möglich.
2 . Lichtquellen verwenden Halogenlampen, so dass die Farbtemperatur hoch ist und die Beleuchtung ungleichmäßig ist
Sehr stabile und scharfe Beleuchtung.
3 . Nach der Verwendung eines kalten Spiegels erreicht die Wärme 1/3 des herkömmlichen Aluminiumspiegels
Immer weniger.
4 . Über den Schaltmechanismus der Stufe 2 schaltet man mit einem Klick die Beobachtung mit hoher Lichtstärke und die Beobachtung mit niedriger Lichtstärke
Der doppelte Wert.
YP-150I Lichtbereich φ30
YP-250I Lichtbereich φ60
(YP-250I kann Propeller-Lüfter-Typ und Rohrlüfter-Typ wählen. )