Willkommen Kunden!

Mitgliedschaft

Hilfe

Hangzhou Glampa Technologie Co., Ltd.
Kundenspezifischer Hersteller

Hauptprodukte:

ag-mach>Produkte
Produktkategorien

Hangzhou Glampa Technologie Co., Ltd.

  • E-Mail-Adresse

    xusan@hzglp.com

  • Telefon

    13575736133

  • Adresse

    Raum A6004, Yuantian Science and Technology Building, 3778 Jiangnan Avenue, Binjiang District, Hangzhou

Kontaktieren Sie jetzt

Produktion von Atomkraftmikroskopen

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/18
Modell
Natur des Herstellers
Hersteller
Produktkategorie
Ursprungsort

Übersicht

Grundfos heimische Version HR-AFM Atomkraftmikroskop ist ein professionelles hochauflösendes Atomkraftmikroskop mit Z-Achse-Rauschen unter 35 Pim. Das Gerät kann die dreidimensionale Form und die mehrphasige Struktur der Mikrozone beobachten, ohne die interne Struktur der Probe zu zerstören; Gleichzeitig können die physikalischen und chemischen Eigenschaften der Probenoberfläche untersucht, numerisch bestimmt und analysiert werden.

Produktdetails

Grundfos heimische Version HR-AFM AtomkraftmikroskopEs ist ein professionelles hochauflösendes Atomkraftmikroskop mit einem Z-Achsengeräusch von weniger als 35 Pim. Das Gerät kann die dreidimensionale Form und die mehrphasige Struktur der Mikrozone beobachten, ohne die interne Struktur der Probe zu zerstören; Gleichzeitig können die physikalischen und chemischen Eigenschaften der Probenoberfläche untersucht, numerisch bestimmt und analysiert werden.

Grundfos heimische Version HR-AFM AtomkraftmikroskopStandardbetriebsmodus:

Vibrationsmodus, Kontaktmodus, Phasenbildgebung, LFM, Kraftkurve, Nanomanipulation, Nanolithographie, Kraftmapping, Reibungsprüfung

Optionale Arbeitsmodi: Leitungsatommikroskop (C-AFM), Magnetkraftmikroskop (MFM), Elektrostatikmikroskop (EFM), Scannpotentialmikroskop (SKPM).

Das Gerät verfügt über eine Softwarefunktion zum automatischen Einsatz. Der Z-Richtungsmotor wird mittels Software gesteuert, um die Sondenautomatik zu realisieren.

X, Y, Z-Achsen getrennte Scanner.

Scanbereich 100 x 100 x 17 μm

Z-Achse Auflösung 0,035nm

Probe Tisch Größe: 25mm * 25mm * 18mm

Bediensoftware: Kostenlose Bediensoftware sowie Wartung und Upgrades mit der Sprachsteuerung der Umgebung Laview. Bereitstellung des Datenanalysesystems Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE

Optische Auflösung ≤2 Mikron, Sichtfeldbereich von 2mm * 2mm bis 300um * 300um verstellbar, Vergrößerung von 45x bis 400x mechanisch verstellbar.

Das Seitensichtssystem bietet eine Visualisierung der Nadel, die den Nadelprozess durch eine präzise Computer-Beobachtung steuern kann, um eine Nadel zu verhindern.