Vollautomatisches 3D-Profiler

VerhandlungsfähigAktualisieren am04/22

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Zweimodus-3D-Profilometer (3D-Bildgebung) können mehrere Tests auf derselben Testplattform durchführen und die Produktkombinationen können je nach den unterschiedlichen Anforderungen der technischen Anwendung geändert werden. Für den gleichen Bereich der Probe können experimentelle Untersuchungen verschiedener Muster durchgeführt werden, wobei der Musterwechsel vollautomatisch ist. Durch die Integration mehrerer Technologien können verschiedene Technologien ihre Vorteile auf dem gleichen Detektor voll nutzen. Diese Integrationstechnologie ermöglicht nicht nur eine umfassende Analyse der Daten, sondern senkt auch die Wartungskosten und steigert damit die Effizienz.

Produktdetails

3D-ProfilerÜbersicht

Rtec DreidimensionalGestaltungHergestellt im kalifornischen Silicon Valley. Es wurde von mehreren Laboren, Universitäten und Industrien verwendet. UPSerieVier Bildmuster wurden auf einem Kopf kombiniert.Mehrere Tests auf derselben Testplattform durchführen，Mit nur einem Klick auf die Schaltfläche können Sie den Bildmodus konvertieren. Diese Kombination ermöglicht eine einfache Abbildung jeder Oberfläche wie transparente, flache, dunkle, flache, gebogene Oberflächen usw. Jedes Bildmodell hat seine eigenen Vorteile undElementeTechnologien ergänzen sich gegenseitig.Diese Integrationstechnologie ermöglicht nicht nur eine umfassende Analyse der Daten, sondern senkt auch die Wartungskosten und steigert damit die Effizienz.

3D optische Profiler Kombination

Weißes Lichtinterferometer

Drehscheibenkofokusmikroskop

Dunkelfeldmikroskop

Hellfeldmikroskop

Hauptplattformspezifikationen

Produktspezifikation

Standard elektrische Plattform 150x150mm (optional 210x310mm)

Standard-Drehtürm, elektrischer Drehtürm optional

Vertikaler Bereich bis zu 100 mm

Schrägstufe 6 Grad

XYPlattformAuflösung 0.1um

Automatisches Modell

Sigma-Kopf - Weißes Lichtinterferometer

Lambda-Kopf - Weißes Lichtinterferometer + Kofokus + Dunkelfeld + Hellfeld

Anwendung

●Rauheit●Volumenverschleiß●Treppenhöhe●Filmdicke●Gestalt

Testbildbeispiele

DLC beschichtete Kugeln Raubbeschichtete Oberflächen Runde Schleifflecken

Diamant Biofilm Mikrofluidkanal

Polymerbeschichtung Tintenzeichen Münzen

Schleifmatte Ausfallspuren von Aluminium Kratzer

Spuren von Beschichtungsausfällen Chipkanal Wafer

oben fürDoppelmodus dreidimensionale OberflächeProfilmesserDie aufgenommene Form der Probe. In Kombination mit mehreren optischen Technologien auf derselben Plattform kann der Tester nahezu jede Art von Proben mit nm-Auflösung messen. Diese OberflächeKonturDie Geräte sind mit leistungsstarker Analysesoftware ausgestattet und erfüllen eine Vielzahl von Standards. Doppelmodus dreidimensionale OberflächeKonturDas Gerät kann mehrere Tests auf derselben Testplattform durchführen und die Produktkombination kann je nach den unterschiedlichen Anforderungen der technischen Anwendung geändert werden. Für den gleichen Bereich der Probe können experimentelle Untersuchungen verschiedener Muster durchgeführt werden und der Musterwechsel kann automatisiert werden. Durch die Integration mehrerer Technologien können verschiedene Technologien ihre Vorteile auf dem gleichen Detektor voll nutzen. Diese Integrationstechnologie ermöglicht nicht nur eine umfassende Analyse der Daten, sondern senkt auch die Wartungskosten und steigert damit die Effizienz.

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