Vollautomatisches Weißes Licht Interferometer

　　Weißes LichtinterferometerÜbersicht:

Rtec wird im kalifornischen Silicon Valley hergestellt. Es wurde von mehreren Laboren, Universitäten und Industrien verwendet. Die UP-Serie kombiniert vier Bildmodi auf einem Kopf. Die Möglichkeit, mehrere Tests auf derselben Testplattform auszuführen, ermöglicht die Konvertierung des Bildmodus durch einfachen Knopfklick. Diese Kombination ermöglicht eine einfache Abbildung jeder Oberfläche wie transparente, flache, dunkle, flache, gebogene Oberflächen usw. Jedes Bildmodell hat seine eigenen Vorteile und die Technologien ergänzen sich gegenseitig. Diese Integrationstechnologie ermöglicht nicht nur eine umfassende Analyse der Daten, sondern senkt auch die Wartungskosten und steigert damit die Effizienz.

3D optische Profiler Kombination

　　1.Weißes Lichtinterferometer；

2. Drehscheibe Kofokussmikroskop;

Dunkelfeldmikroskop;

4. Sichtfeldmikroskop.

Hauptplattformspezifikationen:

Produktspezifikationen:

1. Standard elektrische Plattform 150x150mm (optional 210x310mm)

2. Standard-Drehtürm, elektrischer Drehtürm optional

3. Vertikaler Bereich bis zu 100mm

4. Neigungsphase 6 Grad

5.XY Plattform Auflösung 0.1um

6. Automatisches Modell

Sigma-KopfWeißes Lichtinterferometer

Lambda-KopfWeißes Lichtinterferometer+ Lichtfeld + Dunkelfeld

Anwendung

Rauheit; Volumenverschleiß; Treppenhöhe; Filmdicke; Gestalt

Testbildbeispiele:

Die oben aufgenommene Musterform für das Dual-Mode-3D-Oberflächenkontometer. In Kombination mit mehreren optischen Technologien auf derselben Plattform kann der Tester nahezu jede Art von Proben mit nm-Auflösung messen. Das Oberflächenprofilmeter ist mit leistungsstarker Analysesoftware ausgestattet und erfüllt eine Vielzahl von Standards. Das Dual-Mode-3D-Oberflächenprofilmeter kann mehrere Tests auf derselben Prüfplattform durchführen und die Produktkombinationen können je nach den unterschiedlichen Anforderungen der technischen Anwendung geändert werden. Für den gleichen Bereich der Probe können experimentelle Untersuchungen verschiedener Muster durchgeführt werden und der Musterwechsel kann automatisiert werden. Durch die Integration mehrerer Technologien können verschiedene Technologien ihre Vorteile auf dem gleichen Detektor voll nutzen. Diese Integrationstechnologie ermöglicht nicht nur eine umfassende Analyse der Daten, sondern senkt auch die Wartungskosten und steigert damit die Effizienz.